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高温综合物性测量系统
2019-04-24 11:32   审核人:

仪器功能:

仪器由高精度、高灵敏度温度可控的红外线金面反射炉和微型加热源构成。通过PID精确控温,可同时测量半导体、陶瓷、金属等材料高温下的电导率和Seebeck系数。

仪器品牌:日本公司ADVANCE RIKO, Inc.

仪器型号:ZEM-3 M10

主要技术指标

1.*同时得到Seebeck系数和电阻率。

2.*温度范围:RT-1000℃

3.控温精度 ≤±0.5℃

4. Seebeck系数测量范围:0.5μV/K25V/K;电导率测量范围:02.5K Ohm

5. *Seebeck系数测量精度:< ±7%;测量重复性:< ±7%

6. *电导率测量精度:< ±10%;测量重复性:< ±10%

7.*测量方法:seebeck系数:静态直流电;电阻率:四端法

8. Seebeck测量方式:多温差点求斜率法

9.探针热电偶测试间距:468mm

10.上下电极间温度:在050℃之间,自由设定

送样要求:

测试样品为块状固体,可选形状包括圆柱与棱柱(长方条):直径(或边长)24 mm;高度:920mm


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